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Băjenescu, T. I. (2020). Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme : Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung. Wiesbaden : Springer Vieweg. http://access.bl.uk/ark:/81055/vdc_100095473731.0x000001