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HARVARD Citation
Băjenescu, T. (2020) Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme : Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung. [Online]. Wiesbaden : Springer Vieweg. Available from: http://access.bl.uk/ark:/81055/vdc_100095473731.0x000001