Varella, A. C.; Weaver, D. K.; Sherman, J. D.; Blake, N. K.; Heo, H. Y.; Kalous, J. R.; Chao, S.; Hofland, M. L.; Martin, J. M.; Kephart, K. D.; Talbert, L. E.
Heo, H.‐Y.; Lanning, S. P.; Lamb, P. F.; Nash, D.; Wichman, D. M.; Eberly, J.; Carr, P.; Kephart, K. D.; Stougaard, R. N.; Torrion, J.; Miller, J.; Chen, C.; Holen, D.; Blake, N. K.; Talbert, L. E.
Blake, N. K.; Stougaard, R. N.; Bohannon, B.; Weaver, D. K.; Heo, H.-Y.; Lamb, P. F.; Nash, D.; Wichman, D. M.; Kephart, K. D.; Miller, J. H.; Reddy, G. V. P.; Eckhoff, J. L.; Grey, W. E.; Lanning, S. P.; Sherman, J. D.; Talbert, L. E.