Torbert, R. B.; Burch, J. L.; Giles, B. L.; Gershman, D.; Pollock, C. J.; Dorelli, J.; Avanov, L.; Argall, M. R.; Shuster, J.; Strangeway, R. J.; Russell, C. T.; Ergun, R. E.; Wilder, F. D.; Goodrich, K.; Faith, H. A.; Farrugia, C. J.; Lindqvist, P.‐A.; Phan, T.; Khotyaintsev, Y.; Moore, T. E.
Shuster, J. R.; Argall, M. R.; Torbert, R. B.; Chen, L.‐J.; Farrugia, C. J.; Alm, L.; Wang, S.; Daughton, W.; Gershman, D. J.; Giles, B. L.; Russell, C. T.; Burch, J. L.; Pollock, C. J.
Huang, S. Y.; Retino, A.; Phan, T. D.; Daughton, W.; Vaivads, A.; Karimabadi, H.; Zhou, M.; Sahraoui, F.; Li, G. L.; Yuan, Z. G.; Deng, X. H.; Fu, H. S.; Fu, S.; Pang, Y.; Wang, D. D.
Nakamura, T. K. M.; Genestreti, K. J.; Liu, Y.‐H.; Nakamura, R.; Teh, W.‐L.; Hasegawa, H.; Daughton, W.; Hesse, M.; Torbert, R. B.; Burch, J. L.; Giles, B. L.
Phan, T. D.; Eastwood, J. P.; Cassak, P. A.; Øieroset, M.; Gosling, J. T.; Gershman, D. J.; Mozer, F. S.; Shay, M. A.; Fujimoto, M.; Daughton, W.; Drake, J. F.; Burch, J. L.; Torbert, R. B.; Ergun, R. E.; Chen, L. J.; Wang, S.; Pollock, C.; Dorelli, J. C.; Lavraud, B.; Giles, B. L.