Beekman, C.; Siemons, W.; Ward, T. Z.; Chi, M.; Howe, J.; Biegalski, M. D.; Balke, N.; Maksymovych, P.; Farrar, A. K.; Romero, J. B.; Gao, P.; Pan, X. Q.; Tenne, D. A.; Christen, H. M.
Beekman, C.; Siemons, W.; Ward, T. Z.; Chi, M.; Howe, J.; Biegalski, M. D.; Balke, N.; Maksymovych, P.; Farrar, A. K.; Romero, J. B.; Gao, P.; Pan, X. Q.; Tenne, D. A.; Christen, H. M.
Qiao, L.; Zhang, K. H. L.; Bowden, M. E.; Varga, T.; Shutthanandan, V.; Colby, R.; Du, Y.; Kabius, B.; Sushko, P. V.; Biegalski, M. D.; Chambers, S. A.