Brightness and uniformity measurements of plastic scintillator tiles at the CERN H2 test beam. (5th January 2018)

• Record Type: Journal Article
• Authors: Chatrchyan, S.; Sirunyan, A.M.; Tumasyan, A.; Litomin, A.; Mossolov, V.; Shumeiko, N.; Klundert, M. Van De; Haevermaet, H. Van; Mechelen, P. Van; Spilbeeck, A. Van; Alves, G.A.; Júnior, W.L. Aldá; Hensel, C.; Carvalho, W.; Chinellato, J.; Martins, C. De Oliveira; Figueiredo, D. Matos; Herrera, C. Mora; Nogima, H.; Silva, W.L. Prado Da; Manganote, E.J. Tonelli; Pereira, A. Vilela; Finger, M.; Jr., M. Finger; Kveton, A.; Tomsa, J.; Adamov, G.; Tsamalaidze, Z.; Behrens, U.; Borras, K.; Campbell, A.; Costanza, F.; Gunnellini, P.; Lobanov, A.; Melzer-Pellmann, I.-A.; Muhl, C.; Roland, B.; Sahin, M.; Saxena, P.; Hegde, V.; Kothekar, K.; Pandey, S.; Sharma, S.; Beri, S.B.; Bhawandeep, B.; Chawla, R.; Kalsi, A.; Kaur, A.; Kaur, M.; Walia, G.; Bhattacharya, S.; Ghosh, S.; Nandan, S.; Purohit, A.; Sharan, M.; Banerjee, S.; Bhattacharya, S.; Chatterjee, S.; Das, P.; Guchait, M.; Jain, S.; Kumar, S.; Maity, M.; Majumder, G.; Mazumdar, K.; Patil, M.; Sarkar, T.; Juodagalvis, A.; Afanasiev, S.; Bunin, P.; Ershov, Y.; Golutvin, I.; Malakhov, A.; Moisenz, P.; Smirnov, V.; Zarubin, A.; Chadeeva, M.; Chistov, R.; Danilov, M.; Popova, E.; Rusinov, V.; Andreev, Yu.; Dermenev, A.; Karneyeu, A.; Krasnikov, N.; Tlisov, D.; Toropin, A.; Epshteyn, V.; Gavrilov, V.; Lychkovskaya, N.; Popov, V.; Pozdnyakov, I.; Safronov, G.; Toms, M.; Zhokin, A.; Baskakov, A.; Belyaev, A.; Boos, E.; Dubinin, M.; Dudko, L.; Ershov, A.; Gribushin, A.; Kaminskiy, A.; Klyukhin, V.; Kodolova, O.; Lokhtin, I.; Miagkov, I.; Obraztsov, S.; Petrushanko, S.; Savrin, V.; Snigirev, A.; Andreev, V.; Azarkin, M.; Dremin, I.; Kirakosyan, M.; Leonidov, A.; Terkulov, A.; Bitioukov, S.; Elumakhov, D.; Kalinin, A.; Krychkine, V.; Mandrik, P.; Petrov, V.; Ryutin, R.; Sobol, A.; Troshin, S.; Volkov, A.; Sekmen, S.; Medvedeva, T.; Rumerio, P.; Adiguzel, A.; Bakirci, N.; Boran, F.; Cerci, S.; Damarseckin, S.; Demiroglu, Z.S.; Dölek, F.; Dozen, C.; Dumanoglu, I.; Eskut, E.; Girgis, S.; Gokbulut, G.; Guler, Y.; Hos, I.; Kangal, E.E.; Kara, O.; Topaksu, A. Kayis; Işik, C.; Kiminsu, U.; Oglakci, M.; Onengut, G.; Ozdemir, K.; Ozturk, S.; Polatoz, A.; Cerci, D. Sunar; Tali, B.; Tok, U.G.; Topakli, H.; Turkcapar, S.; Zorbakir, I.S.; Zorbilmez, C.; Bilin, B.; Isildak, B.; Karapinar, G.; Guler, A. Murat; Ocalan, K.; Yalvac, M.; Zeyrek, M.; Atakisi, I.O.; Gülmez, E.; Kaya, M.; Kaya, O.; Koseyan, O.K.; Ozcelik, O.; Ozkorucuklu, S.; Tekten, S.; Yetkin, E.A.; Yetkin, T.; Cankocak, K.; Sen, S.; Boyarintsev, A.; Grynyov, B.; Levchuk, L.; Popov, V.; Sorokin, P.; Flacher, H.; Borzou, A.; Call, K.; Dittmann, J.; Hatakeyama, K.; Liu, H.; Pastika, N.; Buccilli, A.; Cooper, S.I.; Henderson, C.; West, C.; Arcaro, D.; Gastler, D.; Hazen, E.; Rohlf, J.; Sulak, L.; Wu, S.; Zou, D.; Hakala, J.; Heintz, U.; Kwok, K.H.M.; Laird, E.; Landsberg, G.; Mao, Z.; Yu, D.R.; Gary, J.W.; Shirazi, S.M. Ghiasi; Lacroix, F.; Long, O.R.; Wei, H.; Bhandari, R.; Heller, R.; Stuart, D.; Yoo, J.H.; Chen, Y.; Duarte, J.; Lawhorn, J.M.; Nguyen, T.; Spiropulu, M.; Winn, D.; Abdullin, S.; Apresyan, A.; Apyan, A.; Banerjee, S.; Chlebana, F.; Freeman, J.; Green, D.; Hare, D.; Hirschauer, J.; Joshi, U.; Lincoln, D.; Los, S.; Pedro, K.; Spalding, W.J.; Strobbe, N.; Tkaczyk, S.; Whitbeck, A.; Linn, S.; Markowitz, P.; Martinez, G.; Bertoldi, M.; Hagopian, S.; Hagopian, V.; Kolberg, T.; Baarmand, M.M.; Noonan, D.; Roy, T.; Yumiceva, F.; Bilki, B.; Clarida, W.; Debbins, P.; Dilsiz, K.; Durgut, S.; Gandrajula, R.P.; Haytmyradov, M.; Khristenko, V.; Merlo, J.-P.; Mermerkaya, H.; Mestvirishvili, A.; Miller, M.; Moeller, A.; Nachtman, J.; Ogul, H.; Onel, Y.; Ozok, F.; Penzo, A.; Schmidt, I.; Snyder, C.; Southwick, D.; Tiras, E.; Yi, K.; Al-bataineh, A.; Bowen, J.; Castle, J.; McBrayer, W.; Murray, M.; Wang, Q.; Kaadze, K.; Maravin, Y.; Mohammadi, A.; Saini, L.K.; Baden, A.; Belloni, A.; Calderon, J.D.; Eno, S.C.; Feng, Y. B.; Ferraioli, C.; Grassi, T.; Hadley, N.J.; Jeng, G-Y; Kellogg, R.G.; Kunkle, J.; Mignerey, A.; Ricci-Tam, F.; Shin, Y.H.; Skuja, A.; Yang, Z.S.; Yao, Y.; Brandt, S.; D'Alfonso, M.; Hu, M.; Klute, M.; Niu, X.; Chatterjee, R.M.; Evans, A.; Frahm, E.; Kubota, Y.; Lesko, Z.; Mans, J.; Ruckstuhl, N.; Heering, A.; Karmgard, D.J.; Musienko, Y.; Ruchti, R.; Wayne, M.; Benaglia, A.D.; Mei, K.; Tully, C.; Bodek, A.; de Barbaro, P.; Galanti, M.; Garcia-Bellido, A.; Khukhunaishvili, A.; Lo, K.H.; Vishnevskiy, D.; Zielinski, M.; Agapitos, A.; Amouzegar, M.; Chou, J.P.; Hughes, E.; Saka, H.; Sheffield, D.; Akchurin, N.; Damgov, J.; Guio, F. De; Dudero, P.R.; Faulkner, J.; Gurpinar, E.; Kunori, S.; Lamichhane, K.; Lee, S.W.; Libeiro, T.; Mengke, T.; Muthumuni, S.; Undleeb, S.; Volobouev, I.; Wang, Z.; Goadhouse, S.; Hirosky, R.; Wang, Y.;
• Is Part Of: Journal of instrumentation. Volume 13:Number 1(2018:Jan.)
• Page Start: P01002
• Page End: P01002
• Publication Date: 2018-01-05
• Subjects: Scientific apparatus and instruments -- Periodicals; 502.84
• DOI: 10.1088/1748-0221/13/01/P01002
• Languages: English
• ISSNs: 1748-0221