In-situ calibration of the single-photoelectron charge response of the IceCube photomultiplier tubes. (1st June 2020)

• Record Type: Journal Article
• Authors: Aartsen, M.G.; Ackermann, M.; Adams, J.; Aguilar, J.A.; Ahlers, M.; Ahrens, M.; Alispach, C.; Andeen, K.; Anderson, T.; Ansseau, I.; Anton, G.; Argüelles, C.; Auffenberg, J.; Axani, S.; Backes, P.; Bagherpour, H.; Bai, X.; V., A. Balagopal; Barbano, A.; Barwick, S.W.; Bastian, B.; Baum, V.; Baur, S.; Bay, R.; Beatty, J.J.; Becker, K.-H.; Tjus, J. Becker; BenZvi, S.; Berley, D.; Bernardini, E.; Besson, D.Z.; Binder, G.; Bindig, D.; Blaufuss, E.; Blot, S.; Bohm, C.; Börner, M.; Böser, S.; Botner, O.; Böttcher, J.; Bourbeau, E.; Bourbeau, J.; Bradascio, F.; Braun, J.; Bron, S.; Brostean-Kaiser, J.; Burgman, A.; Buscher, J.; Busse, R.S.; Carver, T.; Chen, C.; Cheung, E.; Chirkin, D.; Choi, S.; Clark, K.; Classen, L.; Coleman, A.; Collin, G.H.; Conrad, J.M.; Coppin, P.; Correa, P.; Cowen, D.F.; Cross, R.; Dave, P.; Clercq, C. De; DeLaunay, J.J.; Dembinski, H.; Deoskar, K.; Ridder, S. De; Desiati, P.; de Vries, K.D.; de Wasseige, G.; de With, M.; DeYoung, T.; Diaz, A.; Díaz-Vélez, J.C.; Dujmovic, H.; Dunkman, M.; Dvorak, E.; Eberhardt, B.; Ehrhardt, T.; Eller, P.; Engel, R.; Evenson, P.A.; Fahey, S.; Fazely, A.R.; Felde, J.; Filimonov, K.; Finley, C.; Fox, D.; Franckowiak, A.; Friedman, E.; Fritz, A.; Gaisser, T.K.; Gallagher, J.; Ganster, E.; Garrappa, S.; Gerhardt, L.; Ghorbani, K.; Glauch, T.; Glüsenkamp, T.; Goldschmidt, A.; Gonzalez, J.G.; Grant, D.; Griffith, Z.; Griswold, S.; Günder, M.; Gündüz, M.; Haack, C.; Hallgren, A.; Halve, L.; Halzen, F.; Hanson, K.; Haungs, A.; Hebecker, D.; Heereman, D.; Heix, P.; Helbing, K.; Hellauer, R.; Henningsen, F.; Hickford, S.; Hignight, J.; Hill, G.C.; Hoffman, K.D.; Hoffmann, R.; Hoinka, T.; Hokanson-Fasig, B.; Hoshina, K.; Huang, F.; Huber, M.; Huber, T.; Hultqvist, K.; Hünnefeld, M.; Hussain, R.; In, S.; Iovine, N.; Ishihara, A.; Japaridze, G.S.; Jeong, M.; Jero, K.; Jones, B.J.P.; Jonske, F.; Joppe, R.; Kang, D.; Kang, W.; Kappes, A.; Kappesser, D.; Karg, T.; Karl, M.; Karle, A.; Katz, U.; Kauer, M.; Kelley, J.L.; Kheirandish, A.; Kim, J.; Kintscher, T.; Kiryluk, J.; Kittler, T.; Klein, S.R.; Koirala, R.; Kolanoski, H.; Köpke, L.; Kopper, C.; Kopper, S.; Koskinen, D.J.; Kowalski, M.; Krings, K.; Krückl, G.; Kulacz, N.; Kurahashi, N.; Kyriacou, A.; Labare, M.; Lanfranchi, J.L.; Larson, M.J.; Lauber, F.; Lazar, J.P.; Leonard, K.; Leszczyńska, A.; Leuermann, M.; Liu, Q.R.; Lohfink, E.; Mariscal, C.J. Lozano; Lu, L.; Lucarelli, F.; Lünemann, J.; Luszczak, W.; Lyu, Y.; Ma, W.Y.; Madsen, J.; Maggi, G.; Mahn, K.B.M.; Makino, Y.; Mallik, P.; Mallot, K.; Mancina, S.; Mariş, I.C.; Maruyama, R.; Mase, K.; Maunu, R.; McNally, F.; Meagher, K.; Medici, M.; Medina, A.; Meier, M.; Meighen-Berger, S.; Menne, T.; Merino, G.; Meures, T.; Micallef, J.; Mockler, D.; Momenté, G.; Montaruli, T.; Moore, R.W.; Morse, R.; Moulai, M.; Muth, P.; Nagai, R.; Naumann, U.; Neer, G.; Niederhausen, H.; Nisa, M.U.; Nowicki, S.C.; Nygren, D.R.; Pollmann, A. Obertacke; Oehler, M.; Olivas, A.; O'Murchadha, A.; O'Sullivan, E.; Palczewski, T.; Pandya, H.; Pankova, D.V.; Park, N.; Peiffer, P.; Heros, C. Pérez de los; Philippen, S.; Pieloth, D.; Pinat, E.; Pizzuto, A.; Plum, M.; Porcelli, A.; Price, P.B.; Przybylski, G.T.; Raab, C.; Raissi, A.; Rameez, M.; Rauch, L.; Rawlins, K.; Rea, I.C.; Reimann, R.; Relethford, B.; Renschler, M.; Renzi, G.; Resconi, E.; Rhode, W.; Richman, M.; Robertson, S.; Rongen, M.; Rott, C.; Ruhe, T.; Ryckbosch, D.; Rysewyk, D.; Safa, I.; Herrera, S.E. Sanchez; Sandrock, A.; Sandroos, J.; Santander, M.; Sarkar, S.; Sarkar, S.; Satalecka, K.; Schaufel, M.; Schieler, H.; Schlunder, P.; Schmidt, T.; Schneider, A.; Schneider, J.; Schröder, F.G.; Schumacher, L.; Sclafani, S.; Seckel, D.; Seunarine, S.; Shefali, S.; Silva, M.; Snihur, R.; Soedingrekso, J.; Soldin, D.; Song, M.; Spiczak, G.M.; Spiering, C.; Stachurska, J.; Stamatikos, M.; Stanev, T.; Stein, R.; Steinmüller, P.; Stettner, J.; Steuer, A.; Stezelberger, T.; Stokstad, R.G.; Stößl, A.; Strotjohann, N.L.; Stürwald, T.; Stuttard, T.; Sullivan, G.W.; Taboada, I.; Tenholt, F.; Ter-Antonyan, S.; Terliuk, A.; Tilav, S.; Tollefson, K.; Tomankova, L.; Tönnis, C.; Toscano, S.; Tosi, D.; Trettin, A.; Tselengidou, M.; Tung, C.F.; Turcati, A.; Turcotte, R.; Turley, C.F.; Ty, B.; Unger, E.; Elorrieta, M.A. Unland; Usner, M.; Vandenbroucke, J.; Driessche, W. Van; Eijk, D. van; Eijndhoven, N. van; Vanheule, S.; Santen, J. van; Vraeghe, M.; Walck, C.; Wallace, A.; Wallraff, M.; Wandkowsky, N.; Watson, T.B.; Weaver, C.; Weindl, A.; Weiss, M.J.; Weldert, J.; Wendt, C.; Werthebach, J.; Whelan, B.J.; Whitehorn, N.; Wiebe, K.; Wiebusch, C.H.; Wille, L.; Williams, D.R.; Wills, L.; Wolf, M.; Wood, J.; Wood, T.R.; Woschnagg, K.; Wrede, G.; Xu, D.L.; Xu, X.W.; Xu, Y.; Yanez, J.P.; Yodh, G.; Yoshida, S.; Yuan, T.; Zöcklein, M.;
• Is Part Of: Journal of instrumentation. Volume 15:Number 6(2020)
• Page Start: P06032
• Page End: P06032
• Publication Date: 2020-06-01
• Subjects: Scientific apparatus and instruments -- Periodicals; 502.84
• DOI: 10.1088/1748-0221/15/06/P06032
• Languages: English
• ISSNs: 1748-0221