Simulation of charge readout with segmented tiles in nEXO. (24th September 2019)

• Record Type: Journal Article
• Authors: Li, Z.; Cen, W.R.; Robinson, A.; Moore, D.C.; Wen, L.J.; Odian, A.; Kharusi, S. Al; Anton, G.; Arnquist, I.J.; Badhrees, I.; Barbeau, P.S.; Beck, D.; Belov, V.; Bhatta, T.; Brodsky, J.P.; Brown, E.; Brunner, T.; Caden, E.; Cao, G.F.; Cao, L.; Chambers, C.; Chana, B.; Charlebois, S.A.; Chiu, M.; Cleveland, B.; Coon, M.; Craycraft, A.; Dalmasson, J.; Daniels, T.; Darroch, L.; Daugherty, S.J.; Croix, A. De St.; Mesrobian-Kabakian, A. Der; DeVoe, R.; Vacri, M.L. Di; Dilling, J.; Ding, Y.Y.; Dolinski, M.J.; Dragone, A.; Echevers, J.; Elbeltagi, M.; Fabris, L.; Fairbank, D.; Fairbank, W.; Farine, J.; Ferrara, S.; Feyzbakhsh, S.; Fontaine, R.; Fucarino, A.; Gallina, G.; Gautam, P.; Giacomini, G.; Goeldi, D.; Gornea, R.; Gratta, G.; Hansen, E.V.; Heffner, M.; Hoppe, E.W.; Hößl, J.; House, A.; Hughes, M.; Iverson, A.; Jamil, A.; Jewell, M.J.; Jiang, X.S.; Karelin, A.; Kaufman, L.J.; Kodroff, D.; Koffas, T.; Krücken, R.; Kuchenkov, A.; Kumar, K.S.; Lan, Y.; Larson, A.; Leach, K.G.; Lenardo, B.G.; Leonard, D.S.; Li, G.; Li, S.; Licciardi, C.; Lin, Y.H.; Lv, P.; MacLellan, R.; McElroy, T.; Medina-Peregrina, M.; Michel, T.; Mong, B.; Murray, K.; Nakarmi, P.; Natzke, C.R.; Newby, R.J.; Ning, Z.; Njoya, O.; Nolet, F.; Nusair, O.; Odgers, K.; Oriunno, M.; Orrell, J.L.; Ortega, G.S.; Ostrovskiy, I.; Overman, C.T.; Parent, S.; Piepke, A.; Pocar, A.; Pratte, J.-F.; Radeka, V.; Raguzin, E.; Rescia, S.; Retière, F.; Richman, M.; Rossignol, T.; Rowson, P.C.; Roy, N.; Runge, J.; Saldanha, R.; Sangiorgio, S.; VIII, K. Skarpaas; Soma, A.K.; St-Hilaire, G.; Stekhanov, V.; Stiegler, T.; Sun, X.L.; Tarka, M.; Todd, J.; Tolba, T.; Totev, T.I.; Tsang, R.; Tsang, T.; Vachon, F.; Veeraraghavan, V.; Viel, S.; Visser, G.; Vivo-Vilches, C.; Vuilleumier, J.-L.; Wagenpfeil, M.; Walent, M.; Wang, Q.; Ward, M.; Watkins, J.; Weber, M.; Wei, W.; Wichoski, U.; Wu, S.X.; Wu, W.H.; Wu, X.; Xia, Q.; Yang, H.; Yang, L.; Yen, Y.-R.; Zeldovich, O.; Zhao, J.; Zhou, Y.; Ziegler, T.;
• Is Part Of: Journal of instrumentation. Volume 14:Number 9(2019)
• Page Start: P09020
• Page End: P09020
• Publication Date: 2019-09-24
• Subjects: Scientific apparatus and instruments -- Periodicals; 502.84
• DOI: 10.1088/1748-0221/14/09/P09020
• Languages: English
• ISSNs: 1748-0221