Study of silicon photomultiplier performance in external electric fields. (17th September 2018)

• Record Type: Journal Article
• Authors: Sun, X.L.; Tolba, T.; Cao, G.F.; Lv, P.; Wen, L.J.; Odian, A.; Vachon, F.; Alamre, A.; Albert, J.B.; Anton, G.; Arnquist, I.J.; Badhrees, I.; Barbeau, P.S.; Beck, D.; Belov, V.; Bhatta, T.; Bourque, F.; Brodsky, J. P.; Brown, E.; Brunner, T.; Burenkov, A.; Cao, L.; Cen, W.R.; Chambers, C.; Charlebois, S.A.; Chiu, M.; Cleveland, B.; Coon, M.; Côté, M.; Craycraft, A.; Cree, W.; Dalmasson, J.; Daniels, T.; Darroch, L.; Daugherty, S.J.; Daughhetee, J.; Delaquis, S.; Mesrobian-Kabakian, A. Der; DeVoe, R.; Dilling, J.; Ding, Y.Y.; Dolinski, M.J.; Dragone, A.; Echevers, J.; Fabris, L.; Fairbank, D.; Fairbank, W.; Farine, J.; Feyzbakhsh, S.; Fierlinger, P.; Fontaine, R.; Fudenberg, D.; Gallina, G.; Giacomini, G.; Gornea, R.; Gratta, G.; Hansen, E.V.; Harris, D.; Heffner, M.; Hoppe, E. W.; Hößl, J.; House, A.; Hufschmidt, P.; Hughes, M.; Ito, Y.; Iverson, A.; Jamil, A.; Jessiman, C.; Jewell, M.J.; Jiang, X.S.; Karelin, A.; Kaufman, L.J.; Kodroff, D.; Koffas, T.; Kravitz, S.; Krücken, R.; Kuchenkov, A.; Kumar, K.S.; Lan, Y.; Larson, A.; Leonard, D.S.; Li, G.; Li, S.; Li, Z.; Licciardi, C.; Lin, Y.H.; MacLellan, R.; Michel, T.; Moe, M.; Mong, B.; Moore, D.C.; Murray, K.; Newby, R.J.; Ning, Z.; Njoya, O.; Nolet, F.; Nusair, O.; Odgers, K.; Oriunno, M.; Orrell, J.L.; Ortega, G. S.; Ostrovskiy, I.; Overman, C.T.; Parent, S.; Piepke, A.; Pocar, A.; Pratte, J.-F.; Qiu, D.; Radeka, V.; Raguzin, E.; Rao, T.; Rescia, S.; Retière, F.; Robinson, A.; Rossignol, T.; Rowson, P.C.; Roy, N.; Saldanha, R.; Sangiorgio, S.; Schmidt, S.; Schneider, J.; Sinclair, D.; VIII, K. Skarpaas; Soma, A.K.; St-Hilaire, G.; Stekhanov, V.; Stiegler, T.; Tarka, M.; Todd, J.; Totev, T.I.; Tsang, R.; Tsang, T.; Veenstra, B.; Veeraraghavan, V.; Visser, G.; Vuilleumier, J.-L.; Wagenpfeil, M.; Wang, Q.; Watkins, J.; Weber, M.; Wei, W.; Wichoski, U.; Wrede, G.; Wu, S.X.; Wu, W.H.; Xia, Q.; Yang, L.; Yen, Y.-R.; Zeldovich, O.; Zhao, J.; Zhou, Y.; Ziegler, T.;
• Is Part Of: Journal of instrumentation. Volume 13:Number 9(2018:Sep.)
• Page Start: T09006
• Page End: T09006
• Publication Date: 2018-09-17
• Subjects: Cryogenic detectors -- Photon detectors for UV, visible and IR photons (solid-state) (PIN diodes, APDs, Si-PMTs, G-APDs, CCDs, EBCCDs, EMCCDs etc) -- Double-beta decay detectors -- Noble liquid detectors (scintillation, ionization, double-phase); Scientific apparatus and instruments -- Periodicals; 502.84
• DOI: 10.1088/1748-0221/13/09/T09006
• Languages: English
• ISSNs: 1748-0221