Entwicklung eines Partikelmesssystems zur Erfassung geringer Streulicht‐Intensitäten optimiert für den Einsatz sehr schwacher Laserstrahlen. Issue 4 (6th December 2018)

• Record Type: Journal Article
• Authors: Teumer, Tobias; Hufnagel, Thomas; Schäfer, Thomas; Schlarp‐Horvath, Robert; Karbstein, Heike P.; Methner, Frank‐Jürgen; Rädle, Matthias
• Is Part Of: Chemie Ingenieur Technik. Volume 91:Issue 4(2019)
• Page Start: 529
• Page End: 533
• Publication Date: 2018-12-06
• Subjects: Geringe Laserleistung -- Partikelmessung -- Photonenzähler; Low laser power -- Particle measurement -- Photon counting; Chemical engineering -- Patents -- Periodicals; Chemical engineering -- Periodicals; Chemical industry -- Periodicals; Chemistry, Technical -- Periodicals; 660.05
• DOI: 10.1002/cite.201800073
• Languages: English
• ISSNs: 0009-286X

Abstract

Abstract: In dieser Arbeit wird die Möglichkeit aufgezeigt, mithilfe einer sehr empfindlichen Einzel‐Photonenmesstechnik Streulicht von Partikeln zu messen, das durch den Einsatz von Lasern mit extrem geringen Laserintensitäten erzeugt wurde. Die entstehenden Vorteile für nach diesem Prinzip zu bauende Geräte liegen im Bereich Explosionsschutz, Vermeidung von Produktschädigungen und Arbeitssicherheit. Es werden Messaufbauten zum Vermessen von Suspensionen und Aerosolen beschrieben. Laserleistungen kleiner 5 µW werden eingesetzt. Die Messungen beginnen ab einer Partikelgröße von 200 nm und werden in einer 90°‐Anordnung als worst case durchgeführt, da bei diesem Winkel ein Minimum an Streuung vorliegt. Abstract : Es wird die Möglichkeit aufgezeigt, mit sehr empfindlicher Einzel‐Photonenmesstechnik Streulicht von Partikeln zu messen, das mit sehr geringen Laserintensitäten erzeugt wird. Es werden Messaufbauten zum Vermessen von Suspensionen und Aerosolen beschrieben. Laserleistungen von 5 µW werden angewendet bei Partikelgrößen beginnend ab 200 nm.