May, A. A.; McMeeking, G. R.; Lee, T.; Taylor, J. W.; Craven, J. S.; Burling, I.; Sullivan, A. P.; Akagi, S.; Collett, J. L.; Flynn, M.; Coe, H.; Urbanski, S. P.; Seinfeld, J. H.; Yokelson, R. J.; Kreidenweis, S. M.
Liu, Xiaoxi; Zhang, Y.; Huey, L. G.; Yokelson, R. J.; Wang, Y.; Jimenez, J. L.; Campuzano‐Jost, P.; Beyersdorf, A. J.; Blake, D. R.; Choi, Y.; St. Clair, J. M.; Crounse, J. D.; Day, D. A.; Diskin, G. S.; Fried, A.; Hall, S. R.; Hanisco, T. F.; King, L. E.; Meinardi, S.; Mikoviny, T.
Levin, E. J. T.; McMeeking, G. R.; DeMott, P. J.; McCluskey, C. S.; Carrico, C. M.; Nakao, S.; Jayarathne, T.; Stone, E. A.; Stockwell, C. E.; Yokelson, R. J.; Kreidenweis, S. M.
Hosseini, S.; Urbanski, S. P.; Dixit, P.; Qi, L.; Burling, I. R.; Yokelson, R. J.; Johnson, T. J.; Shrivastava, M.; Jung, H. S.; Weise, D. R.; Miller, J. W.; Cocker, D. R.
Ahern, A. T.; Robinson, E. S.; Tkacik, D. S.; Saleh, R.; Hatch, L. E.; Barsanti, K. C.; Stockwell, C. E.; Yokelson, R. J.; Presto, A. A.; Robinson, A. L.; Sullivan, R. C.; Donahue, N. M.