Rager, A. C.; Dorelli, J. C.; Gershman, D. J.; Uritsky, V.; Avanov, L. A.; Torbert, R. B.; Burch, J. L.; Ergun, R. E.; Egedal, J.; Schiff, C.; Shuster, J. R.; Giles, B. L.; Paterson, W. R.; Pollock, C. J.; Strangeway, R. J.; Russell, C. T.; Lavraud, B.; Coffey, V. N.; Saito, Y.
Shuster, J. R.; Gershman, D. J.; Chen, L.‐J.; Wang, S.; Bessho, N.; Dorelli, J. C.; da Silva, D. E.; Giles, B. L.; Paterson, W. R.; Denton, R. E.; Schwartz, S. J.; Norgren, C.; Wilder, F. D.; Cassak, P. A.; Swisdak, M.; Uritsky, V.; Schiff, C.; Rager, A. C.; Smith, S.; Avanov, L. A.
Shuster, J. R.; Gershman, D. J.; Giles, B. L.; Bessho, N.; Sharma, A. S.; Dorelli, J. C.; Uritsky, V.; Schwartz, S. J.; Cassak, P. A.; Denton, R. E.; Chen, L.‐J.; Gurram, H.; Ng, J.; Burch, J.; Webster, J.; Torbert, R.; Paterson, W. R.; Schiff, C.; Viñas, A. F.; Avanov, L. A.