Westmeier, T.; Deg, N.; Spekkens, K.; Reynolds, T. N.; Shen, A. X.; Gaudet, S.; Goliath, S.; Huynh, M. T.; Venkataraman, P.; Lin, X.; O'Beirne, T.; Catinella, B.; Cortese, L.; Dénes, H.; Elagali, A.; For, B.-Q.; Józsa, G. I. G.; Howlett, C.; van der Hulst, J. M.; Jurek, R. J.