Hwang, K.‐J.; Sibeck, D. G.; Burch, J. L.; Choi, E.; Fear, R. C.; Lavraud, B.; Giles, B. L.; Gershman, D.; Pollock, C. J.; Eastwood, J. P.; Khotyaintsev, Y.; Escoubet, Philippe; Fu, H.; Toledo‐Redondo, S.; Torbert, R. B.; Ergun, R. E.; Paterson, W. R.; Dorelli, J. C.; Avanov, L.; Russell, C. T.