Kamann, S.; Husser, T.-O.; Dreizler, S.; Emsellem, E.; Weilbacher, P. M.; Martens, S.; Bacon, R.; den Brok, M.; Giesers, B.; Krajnović, D.; Roth, M. M.; Wendt, M.; Wisotzki, L.
Davis, T. A.; Alatalo, K.; Bureau, M.; Young, L.; Blitz, L.; Crocker, A.; Bayet, E.; Bois, M.; Bournaud, F.; Cappellari, M.; Davies, R. L.; Duc, P-A.; de Zeeuw, P. T.; Emsellem, E.; Falcon-Barroso, J.; Khochfar, S.; Krajnovic, D.; Kuntschner, H.; Lablanche, P.-Y.; McDermid, R. M.
Boardman, N. F.; Weijmans, A.; van den Bosch, R. C. E.; Zhu, L.; Yildirim, A.; van de Ven, G.; Cappellari, M.; de Zeeuw, P. T.; Emsellem, E.; Krajnović, D.; Naab, T.
Editors:
Gil de Paz, Armando; Knapen, Johan H.; Lee, Janice C.