Burch, J. L.; Webster, J. M.; Hesse, M.; Genestreti, K. J.; Denton, R. E.; Phan, T. D.; Hasegawa, H.; Cassak, P. A.; Torbert, R. B.; Giles, B. L.; Gershman, D. J.; Ergun, R. E.; Russell, C. T.; Strangeway, R. J.; Le Contel, O.; Pritchard, K. R.; Marshall, A. T.; Hwang, K.‐J.; Dokgo, K.; Fuselier,...
Hwang, K.‐J.; Choi, E.; Dokgo, K.; Burch, J. L.; Sibeck, D. G.; Giles, B. L.; Goldstein, M. L.; Paterson, W. R.; Pollock, C. J.; Shi, Q. Q.; Fu, H.; Hasegawa, H.; Gershman, D. J.; Khotyaintsev, Y.; Torbert, R. B.; Ergun, R. E.; Dorelli, J. C.; Avanov, L.; Russell, C. T.; Strangeway, R. J.
Hwang, K.‐J.; Dokgo, K.; Choi, E.; Burch, J. L.; Sibeck, D. G.; Giles, B. L.; Hasegawa, H.; Fu, H. S.; Liu, Y.; Wang, Z.; Nakamura, T. K. M.; Ma, X.; Fear, R. C.; Khotyaintsev, Y.; Graham, D. B.; Shi, Q. Q.; Escoubet, C. P.; Gershman, D. J.; Paterson, W. R.; Pollock, C. J.
Hwang, K.‐J.; Nishimura, Y.; Coster, A. J.; Gillies, R. G.; Fear, R. C.; Fuselier, S. A.; Petrinec, S. M.; Burch, J. L.; Dokgo, K.; Sibeck, D. G.; Giles, B. L.; Russell, C. T.; Strangeway, R. J.; Gershman, D. J.; Pollock, C. J.; Khotyaintsev, Y.; Torbert, R. B.; Ergun, R. E.; Moen, J. I.; Clausen...